Corelis Boundary Scan Board Level Test Systeme

Corelis ScanExpress Boundary Scan Tools OverviewCorelis bietet eine umfassende Linie von JTAG Boundary-Scan Tools (ScanExpress) für Baugruppentests und In-System-Programmierung (ISP) von Flash-Speichern, eMMC und andere programmierbare Bauteile. ScanExpress kommt mit einer intuitiven grafischen Windows-Oberfläche, aus der heraus Testvektoren generiert (SE TPG) und ausgeführt werden (SE Runner). Funktionsgleiche DLLs stehen zur Integration in National Instruments LabView, LabWindows/CVI, TestStand, Geotest ATEasy, Agilent's VEE, Visual Basic und C++ zur Verfügung.

Bei ScanExpress JET handelt es sich um eine Erweiterung der Boundary-Scan-Grundfunktionen, mit deren Hilfe automatische Tests von Baugruppen vereinfacht und beschleunigt werden können. Mit Hilfe des sog. JTAG Embedded Tests sind nahezu alle Bauteile einer Baugruppe erreichbar  und testbar, die mit üblichen Methoden des Boundary-Scan-Tests nicht oder nur eingeschränkt getestet werden können. Hier sind insbesondere I/O-Funktionen (z.B. USB, CAN, Ethernet, ADC, DAC) zu nennen, aber auch Speicher (z.B. DDR3) können mit Systemgeschwindigkeit getestet bzw. programmiert werden (z.B. Flash, eMMC).

ScanExpress JET unterstützt zahlreiche Microcontroller, FPGAs und SoCs, unter anderen auch Infineon Aurix, Nvidia Tegra K1 und Mobileye's EyeQ3, die im Automotive-Bereich eingesetzt werden. Weitere Informationen zu ScanExpress JET findet man in dieser Produktinformation.

Zahlreiche Varianten von JTAG -Controllern für PCI, PCI Express, USB 2.0, Ethernet/LAN, PXI/cPCI und VXI können mit ScanExpress Runner und ScanExpress JET eingesetzt werden. Hierbei sind Taktraten (TCK) von bis zu 100 MHz möglich, womit die Boardintegrität und die Programmierung von Bauteilen enorm beschleunigt wird.

Controller von Drittanbietern werden von Corelis ScanExpress-Software ebenfalls unterstützt. So können z.B. National Instruments PXI-655x HSDIO oder Teradyne-Module aus der Di-Serie eingesetzt werden. Für manche Anwendung kann auch die verwendung eines eingebetteten controllers sinnvoll sein. Corelis unterstützt zu diesem zweck den FTDI FT2232 USB-Controller, der vor allem im Feld den Zugriff auf die zu testende Baugruppe (UUT) erheblich erleichtert.

Eine Einführung in die Technologie hinter JTAG finden Sie im JTAG-Tutorial. Ein weiteres interessantes Stück Literatur ist die Abhandlung über das Debuggen einer funktionslosen Baugruppe.

Neben den "klassischen" JTAG-Testwerkzeugen kann der CAS-1000 I2C/E I²C Bus-Analyzer and Exerciser als I²C-Emulator und -Analyzer sowie als JTAG-Controller eingesetzt werden. Der CAS-1000-I2C/E kann als I²C-Master und -Slave verwendet werden, ermöglicht die Prüfung von Timing und Busparametern und kann als Störgenerator eingesetzt werden.

Weitere Informationen und Preise zu Corelis Boundary-Scan-Produkten, Consulting und Training erhalten Sie auf Anfrage.