So entstand um 1980 die Joint Test Action Group (JTAG) unter deren Regie die erste Fassung  des IEEE -Standards 1149.1-1990 entstand. Im Jahr 1993 wurde dieser Standard überarbeitet  (1149.1a) und brachte genauere Spezifikationen, Korrekturen und Erweiterungen der Funktionalität hervor.  Im Jahr 1994 wurde die heute unverzichtbare Boundary Scan Description Language (BSDL) definiert, die komplexe Bauteile detailliert beschreibt. In dieser Zeit  wurde IEEE1149.1 von zahlreichen Halbleiterherstellern technisch eingeführt, was den Test von komplexen Baugruppen mit teils vielen Boundary-Scan-fähigen Bauteilen dramatisch erleichterte. Hier finden Sie Links zu den BDSL-Bibliotheken verschiedener Halbleiterhersteller.

Heute spielt Boundary Scan dank preisgünstiger Testsysteme auch für kleinere Unternehmen eine immer größer werdende Rolle. Bei Einstiegspreisen von einigen tausend Euro und sehr günstigen Speziallösungen, z.B. für die In-Circuit-Programmierung von CPLD, Flash und EEPROMs lohnt sich die Anschaffung schon bei einzelnen Projekten. Natürlich kann Boundary-Scan nicht alle Design- und Produktionsfehler beheben, aber die Ausschussrate eines Produkts kann durch ein mit geringem Aufwand optimiertes Design dramatisch reduziert werden. Fehlerindentifikation und -beseitigung werden zum "Kinderspiel".Anders als vielfach angenommen wird, kann BoundaryScan weit mehr, als nur digitale Bauteile mit JTAG-Schnittstelle zu prüfen. Es können sogar D/A-Wandler, Opto-Koppler, Schnittstellen-Treiber, Speicherbausteine und vieles mehr in einen Test einbezogen werden, wenn die Schaltung entsprechend optimiert wird. Diese Optimierung ist in der Regel ohne zusätzlichen Schaltungsaufwand möglich.

Wir zeigen Ihnen gerne wie Sie ihr Design für Boundary-Scan optimieren können und erzeugen auf Wunsch ein Testprojekt für Ihre Hardware, damit Sie sehen, wie Boundary-Scan Sie in Ihren Projekten unterstützen kann.